Navigációs nézetek

Esemény nézet navigáció

Ma

ED-XRF elemzések a cementiparban (minőségellenörzés és gyártás)

A cementipar egyik legstabilabb üzletág az  építőipari alapanyagok terén. Az állandó minőség biztosítása érdekében nélkülözhetetlen a folyamatos monitoring a gyártástechnológia során. Erre kínál kitűnő lehetőséget a SPECTRO cég ED-XRF berendezéseivel. Milyen egyszerű? Mennyire gyors? Jelen webinár keretein belül megtekinthetik.

Workshop German crystallographic meeting regisztraciós lehetőség

Szeretném figyelmükbe ajánlani az alábbi, március 16.-án megrendezésre kerülő RIGAKU Workshop-ot, amelyet a German crystallographic meeting keretében a regisztráció bárki számára nyitott. A workshop témája: Part 1: Synergy-ED: A new electron diffractometer for 3DED (Fraser White) Part 2: CrysAlisPro version 42: Synergy, AutoChem5.0, Robotics, MicroED/3DED, user inspired improvements (Mathias Meyer)

SPECTRO AMTEK – Növényi minták elemzése XRF és ICP-OS technológiákkal

A növényi minták elemzése, sok esetben nehéznek bizonyul. A nehézkes mintaelőkészítés mellet fontos probléma a növényi szöveg mint mátrix. Ezen mátrix korrekciója és oldatba vitele is tud meglepetéseket okozni. A jelenlegi webinár keretein belül lehetőség nyílik bepillantani ebbe az izgalmas világba.

SPECTRO – Analysis of Fuels and Biofuels Using ICP-OES and ED-XRF

Az üzemanyagok analízise mindig kihívás elé állította az analitikusokat. Mai világunkban az üzemanyagok minősége és gazdaságos előlítása kiemelt figyelmet érdemel. Jelen webinár keretein belül megtekintheti a Spectro cég válaszát ezen kihívásra. https://www.spectro.com/livestream

SPECTRO – ICP-OES Plasma Observation Technologies and Their Application

A  Webinár keretein belül megismerkedhetnek a SPECTRO egyedi fejlesztésével, mellyel a hagyományos ICP-OS rendszerekhet képest jobb detektált intenzitás érhető el. ICP felhasználóknak érdemes megtekinteniük milyen lehetőséget rejt egy egyedi elrendezés a készüléken belül. https://www.spectro.com/livestream

XRF olvasztasos mintaelőkészítés előadás

A Röntgenfluoreszcens spektrometriát (XRF) az egyik legalapvetőbb analitikai módszer, melyet különböző alkalmazási területeken fő analitikai technikaként használják a legkülönbözőbb típusú anyagok minőségének ellenőrzéséhez. Szeretnénk figyelmükbe ajánlani az alábbi webinár előadást, mely különböző alkalmazásokra összpontosít, ahol az anyagok széles skálájának minőség ellenőrzésére van szükség. Az egyik legfontosabb feladat a különböző típusú anyagok minta-előkészítése a pontos és …

Using TOF-ICP-MS to scale the nanoparticle analyse mountain and reach the non-target analysis summit

The analysis of small particles down to tens and hundreds of nanometer sizes has been a challenging undertaking over the past decades. Whilst single particle (SP)-ICP-MS has been proven a successful technique, TOF-ICP-MS is now recognised as a game changer due to its multi-elemental capability allowing for compositional analysis on individual particles and nontarget nanoparticle …