Navigációs nézetek

Esemény nézet navigáció

Ma

Korábbi Események

Using TOF-ICP-MS to scale the nanoparticle analyse mountain and reach the non-target analysis summit

The analysis of small particles down to tens and hundreds of nanometer sizes has been a challenging undertaking over the past decades. Whilst single particle (SP)-ICP-MS has been proven a successful technique, TOF-ICP-MS is now recognised as a game changer due to its multi-elemental capability allowing for compositional analysis on individual particles and nontarget nanoparticle …

XRF olvasztasos mintaelőkészítés előadás

A Röntgenfluoreszcens spektrometriát (XRF) az egyik legalapvetőbb analitikai módszer, melyet különböző alkalmazási területeken fő analitikai technikaként használják a legkülönbözőbb típusú anyagok minőségének ellenőrzéséhez. Szeretnénk figyelmükbe ajánlani az alábbi webinár előadást, mely különböző alkalmazásokra összpontosít, ahol az anyagok széles skálájának minőség ellenőrzésére van szükség. Az egyik legfontosabb feladat a különböző típusú anyagok minta-előkészítése a pontos és …

SPECTRO – ICP-OES Plasma Observation Technologies and Their Application

A  Webinár keretein belül megismerkedhetnek a SPECTRO egyedi fejlesztésével, mellyel a hagyományos ICP-OS rendszerekhet képest jobb detektált intenzitás érhető el. ICP felhasználóknak érdemes megtekinteniük milyen lehetőséget rejt egy egyedi elrendezés a készüléken belül. https://www.spectro.com/livestream