Using TOF-ICP-MS to scale the nanoparticle analyse mountain and reach the non-target analysis summit
A tíz és száz nanométeres méretű kis részecskék elemzése az elmúlt évtizedekben nagy kihívást jelentett. Míg az egy részecske (SP)-ICP-MS sikeres technikának bizonyult, addig a TOF-ICP-MS ma már elismert, hogy