A tíz és száz nanométeres méretű kis részecskék elemzése az elmúlt évtizedekben nagy kihívást jelentett. Míg az egy részecske (SP)-ICP-MS sikeres technikának bizonyult, addig a TOF-ICP-MS ma már elismert, hogy a több elemet tartalmazó képességének köszönhetően, amely lehetővé teszi az egyedi részecskék összetételének elemzését és ismeretlen minták nem célzott nanorészecske-elemzését, a TOF-ICP-MS változást hoz.

Miközben a több elem egyidejű, gyors meghatározásának képessége nagy előny, a keletkező adatfájlok mérete néhány perc alatt elérheti a gigabájtot. Az új kihívás, amellyel szembe kell néznünk, az, hogy hogyan kezeljük és értelmezzük ezeket az adatokat, hogy a nanorészecske-elemzés új korszakában gyorsan pontos eredményeket kapjunk.

Ezen a webináriumon a TOF-ICP-MS segítségével történő nanorészecske-detektálásról és a detektált részecskék adatelemzéséről lesz szó, amelyet két előadó mutat be:

Lukas Schlatt, a Nu Instruments Vitesse termékmenedzsere arról fog beszélni, hogy a Vitesse TOF-ICP-MS hogyan képes kezelni a nanorészecskék elemzéséből adódó kihívásokat.
David Clases, a grazi Karl-Franzens-Universität Graz adjunktusa a nagyméretű fájlok adatkezelésének egyszerűsítésére szolgáló előelemző eszköz alkalmazásáról és az elérhető eredményekről szóló, hamarosan publikálásra kerülő adataik közül mutat be néhányat. A TOF-ICP-MS-hez használt kötőjeles technikákról is szó lesz.